飞纳电镜MAPS的不同视角SEM表征与数据分析

飞纳电镜持续创新  系列一
01
“你这个位置是哪里拍的？其他位置什么情况？整个样品上裂纹的走势是什么样的？”
作为失效工程师，收到老板或同事的灵魂拷问，是不是常常让你头疼？

02
“你这个太局部了，不具有代表性，其他位置什么情况？”
明明是供应商产品的问题，但强势的甲方的诡辩总让你无奈不已？

03
“小张，我要整个组织切片的全貌，请确保拍下来。”
导师的要求太天真，臣妾做不到？
别担心，飞纳电镜 MAPS 系统帮你解决这些问题！

2024 年，飞纳发布数据采集及阅读系统 Phenom MAPS。该系统不仅彻底革新了数据存储的方式，还为 SEM 表征与数据分析开启了“上帝视角”，帮您轻松掌握每一个细节，不再需要费力解释。

今天，我们来详细了解一下这款为科学家们提供“上帝视角”的飞纳电镜 MAPS 系统。

No.1 ：多图层数据采集及阅读系统
“人如其名”，MAPS 是地图的意思，该系统会像百度地图一样，通过层级的方式，实现对样品的拍摄与数据回看。Phenom MAPS 提供的是一个涵盖所有样品信息的数码存档，从全面（宏观）到具体（微观）无所不包，彻底变革了传统扫描电镜的分析与数据存储模式。并且，多图层数据可以包含能谱。
 

No.2 ：大面积成像拼接，完全无痕！
大面积成像拼接，完全无痕

No.3：大面积能谱分析，地质行业zui爱！
这里是一个地质样品的能谱拼图结果，Phenom MAPS 可以实现对整个样品的能谱采集，导出任意拼接的原始能谱数据，以方便进行离线分析。

No.4 ：CISA，关联一切可视化图片
光镜、拉曼、红外、XPS，甚至 CAD 或手绘草图，通通可以关联。下图案例：通过 MAPS CISA，将 SEM 和 XPS 面分布以及全谱分析的功能相结合，分析多孔砂粒子的表面组成和形貌。
 

通过结合 XPS 和 SEM 的分析，可以精确地将化学信息与显微镜提供的高分辨率结构信息融合。CISA 关联工作流程尤其适用于研究电池、高分子材料、催化剂和金属等样品的材料研究。

总结
飞纳电镜 MAPS 系统不仅是一个自动化的图像、能谱采集工具，更是一个数码存档和关联数据分析平台。通过地图化的多层级扫描电镜和能谱数据采集及关联系统，为您提供多模态的“上帝视角”，全面掌握显微镜数据，不再错过任何细节。