飞纳台式扫描电镜在微加工中的颗粒分析下的应用

随着电子设备、医疗设备和电机等产品对小型精密加工零件的需求，精密微加工在全球范围内变得越来越重要。如今，制造商在微观层面研磨及加工各种材料，他们越来越多地使用扫描电镜 (SEM) 来评估产品质量，并对制造过程中可能出现的污染物进行颗粒分析。根据这些污染物的物理和化学性质，针对性地对昂贵的微加工设备进行维护，从而实现长期性的节省成本。

例如，德国高精度机械铣床制造商 KERN Microtechnik ，希望通过确定烟灰颗粒在加工过程中进入陶瓷的原因和方式，从而帮助其客户降低制造成本。需要注意的是这些颗粒会降低陶瓷的加工速度和精度，并损坏最终产品。

烟灰颗粒可以通过多种方式引入陶瓷制造过程：来自聚合油在铣床上热分解、来自钻头的金属部件或来自铣削件本身。通过识别烟尘颗粒的形态和化学成分，制造商可以确定根本原因并采取纠正措施，无论是对研磨机进行维护还是调整研磨配方以确保满意的质量。

飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 结合能谱 (EDS) ，帮助 KERN Microtechnik 进行颗粒分析，可以快速识别在加工过程中进入陶瓷的烟灰颗粒的形态和元素组成。直观的用户操作界面，短时间内可以实现加载样品和获得结果，使质量控制专家能够轻松确定污染物的形貌和成分。
 

EDS 结果显示颗粒中存在硅元素，表明烟灰颗粒的陶瓷性质。因此，烟灰颗粒不是由油的化学降解或研磨设备上部件的磨损产生的。如果使用没有配备能谱（EDS）的扫描电镜（SEM），就不可能进行这种元素分析。

与其他扫描电镜（SEM）相比，飞纳台式扫描电镜更快速，用户可以在一分钟内获得高清的图片。台式 SEM 的外形尺寸小，仅需要很少的实验室空间，并且允许用户将 SEM 放置在实验室或生产线上的合适位置，从而进行实时分析。

通过 Phenom XL G2 台式电镜的帮助，KERN Microtechnik 不仅协助客户优化高精度铣削工艺和降低制造成本，还确立了自己在创新技术上的地位。Phenom XL G2 是一款用于质量控制的多功能扫描电镜，可帮助制造商快速分析夹杂物或颗粒，以便改进多种材料的研磨和加工过程。