电气绝缘用薄膜试验方法
电气绝缘用薄膜试验方法取样、预处理条件和试验条件，从薄膜卷上取样时，应至少先剥去最外三层薄膜，取样时的环境条件同试验条件。
并按性能要求进行制样，预处理条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外，取样前样品薄膜卷应在23℃±2℃。
相对湿度50%±5%的条件下至少放置24h，取好的试样应在该条件下处理1h。试验条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外。
试验应在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%、环境洁净度不大于10000级的条件下进行。厚度应按产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。
机械法单层法原理，根据ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光学计或其他仪器测量单张试样的厚度。
测量仪器薄膜厚度小于100µm时，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm~50mm的球面测帽。
测量压力为0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100µm时，可用千分尺测量。仪器精度要求：薄膜厚度小于15µm时。
精度不低于0.2µm，薄膜厚度大于等于15µm但小于100µm时，精度不低于1µm；薄膜厚度大于或等于100µm，精度不低于2µm。
沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条，试样不应有皱折或其他缺陷。
按ISO 4593:1993的要求，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量27点，两测量点间距不少于50mm。
对未切边的膜卷，测量点应离薄膜边缘50mm，对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。取27个测量值的中值作为试验结果。
并报告最大值和最小值，叠层法测量仪器千分尺：精度为1µm，直径为6mm的平面测帽，测力为6N~10N。
薄膜叠层试样的数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成，其制备方法如下：从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取。
并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板推荐尺寸为：250mm×200mm。其中200mm为板的长度方向尺寸。
在测量之前去掉叠层的最外层和最内层实际测量十层，再进行测量。结果叠层试样测量厚度除以10，得到单层薄膜厚度。
取其平均值作为试验结果，并报告最大值和最小值。重量法（质量密度法）原理按ISO4591:1991中的第1部分。
根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度，测量仪器分析天平感量0.1mg，钢板尺分度值0.5mm。
测量在薄膜卷上取三片长方形试样，每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积，用分析天平测量试样质量。
按本部分第5章规定测量试样的密度，结果每个测量值的结果按式（1）计算：
…………（1）
h——试样的厚度，单位为微米（µm）；m——试样的质量，单位为克（g）；s——试样的面积，单位为平方厘米（cm2）；
d——试样的实测密度，单位为克每立方厘米（g/cm3）。取三个计算值的中值作为试验结果，结果取三位有效数字。
用重量法测定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的第2部分，根据膜卷的长度、平均宽度和净重以及薄膜的密度计算平均厚度。
横向厚度分布和纵向厚度变化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的规定，宽度按ISO4592:1992中第2部分规定测定。
沿样品纵向取5m使薄膜处于放松状态1h后，沿纵向等距离测定宽度五次。记录每一宽度测定值，取中值作为该卷的宽度。
卷绕性（偏移/弧形或凹陷）原理用于评定成卷供货的薄膜的变形情况。薄膜的变形可能有两种形式，它们会影响以后使用时的绕包性。
这两种变形是：偏移/弧形：薄膜平整地展开时，其边缘不呈直线；凹陷：薄膜的局部面积因受拉伸。
从而会出现低于总平面的凹陷部分，规定两种方法测量变形：方法A适用于窄的薄膜小于150mm，其变形主要表现为偏移/弧形；
方法B适用于较宽的薄膜大于或等于150mm，其变形主要表现为凹陷。对于很厚的薄膜，由于其变形主要表现为凹陷。
并按性能要求进行制样，预处理条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外，取样前样品薄膜卷应在23℃±2℃。
相对湿度50%±5%的条件下至少放置24h，取好的试样应在该条件下处理1h。试验条件除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外。
试验应在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%、环境洁净度不大于10000级的条件下进行。厚度应按产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。
机械法单层法原理，根据ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光学计或其他仪器测量单张试样的厚度。
测量仪器薄膜厚度小于100µm时，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm~50mm的球面测帽。
测量压力为0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100µm时，可用千分尺测量。仪器精度要求：薄膜厚度小于15µm时。
精度不低于0.2µm，薄膜厚度大于等于15µm但小于100µm时，精度不低于1µm；薄膜厚度大于或等于100µm，精度不低于2µm。
沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条，试样不应有皱折或其他缺陷。
按ISO 4593:1993的要求，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量27点，两测量点间距不少于50mm。
对未切边的膜卷，测量点应离薄膜边缘50mm，对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。取27个测量值的中值作为试验结果。
并报告最大值和最小值，叠层法测量仪器千分尺：精度为1µm，直径为6mm的平面测帽，测力为6N~10N。
薄膜叠层试样的数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成，其制备方法如下：从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取。
并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板推荐尺寸为：250mm×200mm。其中200mm为板的长度方向尺寸。
在测量之前去掉叠层的最外层和最内层实际测量十层，再进行测量。结果叠层试样测量厚度除以10，得到单层薄膜厚度。
取其平均值作为试验结果，并报告最大值和最小值。重量法（质量密度法）原理按ISO4591:1991中的第1部分。
根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度，测量仪器分析天平感量0.1mg，钢板尺分度值0.5mm。
测量在薄膜卷上取三片长方形试样，每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积，用分析天平测量试样质量。
按本部分第5章规定测量试样的密度，结果每个测量值的结果按式（1）计算：
…………（1）h——试样的厚度，单位为微米（µm）；m——试样的质量，单位为克（g）；s——试样的面积，单位为平方厘米（cm2）；
d——试样的实测密度，单位为克每立方厘米（g/cm3）。取三个计算值的中值作为试验结果，结果取三位有效数字。
用重量法测定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的第2部分，根据膜卷的长度、平均宽度和净重以及薄膜的密度计算平均厚度。
横向厚度分布和纵向厚度变化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的规定，宽度按ISO4592:1992中第2部分规定测定。
沿样品纵向取5m使薄膜处于放松状态1h后，沿纵向等距离测定宽度五次。记录每一宽度测定值，取中值作为该卷的宽度。
卷绕性（偏移/弧形或凹陷）原理用于评定成卷供货的薄膜的变形情况。薄膜的变形可能有两种形式，它们会影响以后使用时的绕包性。
这两种变形是：偏移/弧形：薄膜平整地展开时，其边缘不呈直线；凹陷：薄膜的局部面积因受拉伸。
从而会出现低于总平面的凹陷部分，规定两种方法测量变形：方法A适用于窄的薄膜小于150mm，其变形主要表现为偏移/弧形；
方法B适用于较宽的薄膜大于或等于150mm，其变形主要表现为凹陷。对于很厚的薄膜，由于其变形主要表现为凹陷。
