原子力显微镜测试服务包括：
超高分辨率、超高一致性的表面形貌测试 （Topography imaging）
稳定可靠的纳米尺度的导电性能测试 （EFM，C-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR）
稳定可靠的纳米尺度的磁性性能测试 (MFM)
即将推出纳米压痕测试服务，液态成像测试服务以及生物样品测试和咨询服务等。
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北京五泽坤科技有限公司是中国唯一专注于纳米技术，特别是原子力显微镜探针/针尖(AFM probes)相关技术及其产品、配件的研发和销售的科技公司。
材料和纳米科技进步改变和影响人类的文明进程，这些技术的发展对相应的表征科学仪器不断提出更高的要求。纳米科技是指对尺度在1-100nm的材料、分子及原子的特殊物理化学性能的研究和应用。原子力显微镜具有极高的分辨率和易用性，广泛应用于力学、机械、电学、磁学以及生化等领域。1981年，STM由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 发明。1982年，Binnig首次观察到原子分辨图Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate开发成功了首台原子力显微镜（AFM）。在纳米技术领域，SPM逐渐发展成为重要的多功能表征工具。五泽坤公司的原子力显微镜探针/针尖包括接触模式（contact mode），非接触模式（non-contact / tapping mode）探针，生物应用探针，导电探针（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性探针（MFM）, 压痕及刻蚀探针，Force modulation probes, Lateral mode probes等。
公司的研发团队和工程师在近10年来活跃在纳米表征、扫描探针以及半导体行业。公司在美国的研发中心最近开发的超细纳米针尖包括形貌高分辨针尖，特别是导电、磁性针尖，彻底克服了目前依靠磁性和导电金属镀层的针尖极易磨损的缺点。新产品具有使用寿命长，一致性好等突出优点。目前有四个新产品申请了美国和中国专利。公司多名研发人员获得美国著名大学博士学位，对原子力显微镜，探针/针尖相关技术和应用有丰富的经验，并能为客户提供良好的技术咨询和服务。
公司供应各种型号原子力显微镜探针/针尖：接触模式（contact mode），非接触模式（non-contact / tapping mode）针尖，生物应用针尖，导电针尖（EFM, c-AFM, SCM, Tuna, KFM, SSR），磁性针尖（MFM）, 压痕及刻蚀针尖，Force modulation probes, Lateral mode probes等。
原装进口，现货供应，价格优惠，服务至上！
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