X射线衍射仪技术(XRD)是通过对样品进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的一种仪器。
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测试内容
1. D8 Advance X射线衍射谱中的衍射峰与晶体中的不同晶面为一一对应关系,可以标定出各个衍射峰对应的晶面指数。根据衍射峰的位置、衍射峰的强度和形状,通过索引已建立的XRD标准卡片库,可检索出样品中存在何种物相。;
2. 物相定性分析;结晶度及非晶相含量分析;结构精修及解析;物相定量分析;点阵参数精确测量;无标样定量分析;微观应变分析;晶粒尺寸分析;原位分析;残余应力;低角度介孔材料测量;织构及ODF分析;薄膜掠入射;薄膜反射率测量;小角散射
可检测范围
1.常用于无机物。
2.有机晶体单晶不合适。
3.角度5-80度,快扫,慢扫。
4.物相是定量分析,相对定量。
样品要求
1.粉末状或固体。
2.样本量0.5g-1g。
3.不能含有铁。