PhenoTrait应邀参加第十四届国际谷物穗发芽会议

7月30-8月2日，天府之国四川成都，召开了第十四届国际谷物穗发芽会议，本次会议由国际谷物穗发芽大会主办，四川农业大学承办。
 

大会伊始，由四川农业大学小麦研究所所长王际睿致辞，随后会议围绕种子发育对萌发影响、穗发芽抗性机制及其对品质影响、抗性育种等内容展开。英国John Innes中心Steve Penfield博士，中国科学院遗传与发育生物学研究所储成才博士等与会专家做了精彩的报告。
 

慧诺瑞德（北京）科技有限公司（PhenoTrait）应邀参会并布设展台展示了最新的光合作用测量和植物表型测量技术，包括

• 高通量叶绿素荧光成像测量系统（成像面积从20x20cm 到 200x200cm）

• 温室冠层叶绿素荧光“遥测”系统（侧面放置CropObserver遥测植物光合荧光）

• 田间高通量冠层叶绿素荧光“遥测”系统（田间高通量光合表型测量不是梦）

• 多功能植物测量仪（【视频】顶级大牛讲解叶绿素荧光原理和参数）

• 多通道冠层光合气体交换测量系统

• 温室和田间高通量表型测量技术（多尺度高通量植物表型平台解决方案）

• 新型智慧农业传感器——光谱气象仪