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614 次 TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂层的光谱分析 2024-10-10
飞行时间二次离子质谱（ Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ，TOF-SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,
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538 次 二次离子质谱仪不同质量分析器的区别 2024-9-13
二次离子质谱法是一种高效的分析技术，利用化合物的离子化过程及其质量分析，以确定待测化合物的分子量、分子式和结构特征。质谱仪作为该方法的重要组成部分，通过将离子的质量进行有效分离，并
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740 次 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪离子源的选择 2024-8-29
TOF-SIMS（TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry）飞行时间二次离子质谱仪的基本组件包括一次离子束，和用于样品深度剖析的离子束。主离子束被脉冲化以供飞行时间质谱仪进行分析使用。
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804 次 使用TOF-SIMS进行材料研究 2024-8-13
静态SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，能在只消耗样品单层一小部分的情况下，获得详细的质谱图。被分析的分子来自固体表面前几层，这对于探讨材料关键区域例如附着力或催化等性质至关重要。Ko
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828 次 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱的技术能力 2024-8-6
飞行时间二次离子质谱 （TOF-SIMS） 是一种表面分析技术，它将脉冲一次离子束聚焦到样品表面，在溅射过程中产生二次离子。分析这些二次离子可提供有关样品表面的分子、无机和元素种类的信息。例
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1597 次 一文读懂飞行时间二次离子质谱技术（TOF-SIMS） 2024-8-1
什么是TOF SIMS? 它可以应用于哪些领域？能提供哪些信息？哪些样品适用（哪些不适用）？在这一系列文章中，我们将解答所有这些问题，以及更多探讨。飞行时间二次离子质谱法（ToF SIMS）是一种用