614 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂层的光谱分析 2024-10-10
飞行时间二次离子质谱( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,
740 次TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪离子源的选择 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飞行时间二次离子质谱仪的基本组件包括一次离子束,和用于样品深度剖析的离子束。主离子束被脉冲化以供飞行时间质谱仪进行分析使用。