裕隆时代向用户推出 品质优秀的MAX-8000微区X射线荧光光谱(μXRF)。
基本原理
X射线荧光光谱仪(XRF)是利用X射线光管发出的初级X射线来激发样品中的原子,使原子产生特征X射线。通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长(或能量)和强度,可以获得样品中的元素组成与含量信息,从而对样品元素进行定性定量分析。
MAX-8000微区X射线荧光光谱仪,利用 X 射线全反射的原理,将 X 射线管激发出的 X 射线束在多导毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变 X 射线传输方向,从而实现 X 射线聚焦到非常小的区域(μm级),同时将 X 射线的强度增加 2~3 个数量级,以获得更好的空间分辨率和更准确的元素成分分析。
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MAX-8000仪器优点
- 高空间分辨率:MAX-8000微区X射线荧光光谱仪采用多导毛细管聚焦镜技术,将X射线聚焦到非常小的区域,同时将 X 射线强度增加 2~3 个数量级,从而获得极佳的空间分辨率,在μm级别范围内进行精确的元素分析。
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- 非破坏性分析:超大样品仓,无需对样品进行破坏或切割处理,可直接对大块样品、不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物等进行分析,尤其适用于珍贵、历史或不可逆的样品。
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- 激光位移传感器自动控制样品与 X 射线源之间的距离:本谱仪采用精度20 微米的激光位移传感器,在计算机的控制下,实时调整样品被测量点与毛细管 X 光透镜出端的距离,严格保证样品被测量点位于毛细管透镜的焦斑上,大幅提高测量的准确性。
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- 多元素同时分析:可以同时测定样品中多种元素的含量和分布情况,从百分比级别到亚 ppm(百万分之一)级别的浓度都可以测量,分析范围涵盖元素周期表中大部分元素。
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- 快速分析:具备快速面扫描元素成像分析功能,能迅速对样品进行筛选,找出感兴趣的样品信息和位置,可在几分钟内完成一个样品的分析。
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方便快捷的操作界面
- 多种测量环境:可在空气、氦气和真空(定做)等环境下进行测量,以满足不同样品测试需求。
应用领域
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- 材料科学:用于新材料研发、质量控制,解析材料微观结构与性能的关联,如分析金属、陶瓷、半导体等材料中的元素组成和分布,研究材料的相变、扩散等过程。
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- 地质勘探:快速分析矿石、岩石的矿物组成,确定矿产类型、矿物含量和地质构造,为资源勘查提供准确数据支持,助力矿产资源的高效开发和利用。
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- 环境监测:检测土壤、水源、大气颗粒物等环境样品中的重金属元素、有害元素含量,为环境保护、污染治理提供数据。
- 生物医学:对生物组织切片、生物材料、医疗器械等进行元素分析,研究生物体内元素的分布和代谢,助力疾病诊断、药物研发等,如研究生物材料在体内的降解过程中元素的释放和分布。
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- 考古学与文物保护:分析文物的制作材料、产地、年代等信息,帮助鉴定文物真伪、研究文物的历史和文化背景,如对陶瓷、青铜器、书画等文物进行无损检测。
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MAX-8000技术规格
MAX-8000
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性能参数
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微焦斑X射线管
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焦斑50μm×50μm,30W,风扇冷却
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X 射线探测器
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SDD 120ev (5.9keV)
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毛细管 X 光透镜
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聚焦 X 射线束光斑直径 20 微米~600 微米(Mo-Kα)
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控制系统
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PLC
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激光位移传感器
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精度 20 微米
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CCD 相机
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1400 万像素,放大倍数 20
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三维样品台
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行程 40mm×40mm×40mm,编码器控制的步进电机,
精度 0.1 微米/步,承重 50Kg;可个性化定制
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数据处理
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基于小波变换的能谱峰面积计算和本底扣除;
二维样品扫描谱处理软件:基本参数法定量分析,标样偏最小二乘法拟合
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裕隆时代最新推出性能优秀的MAX-8000微区X射线荧光光谱仪(μXRF),
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作为生产厂商,裕隆时代向客户提供性能卓越的LJ-18M磁控离子溅射仪、LJ-16离子溅射仪、ArFab100氩离子抛光仪、MAX-8000微区X射线荧光光谱仪、MCP100精密切抛一体机(精研一体机)、电解双喷减薄、离子减薄仪、精密金刚石切割机等实验设备,以及实验耗材(VACSEAL真空堵漏胶、原装预对中灯丝、导电胶、微栅铜网、电镜样品载物台等),全面满足科研人员对材料微观观测及分析要求。
裕隆时代主要产品还包括FusionScope(SEM+AFM)(形貌、成分、力学、电学和磁学)综合原位分析系统、扫描电镜、台式透射电镜、TEM原位加热电学力学系统、纳米粒子发生器、EBIC电子束感生电流分析系统等。
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