扫描透射电子束电性失效分析系统STEBIC

英文名称：	Scanning Transmission EBIC	总访问：	355
国产/进口：	进口	半年访问：	26
产地/品牌：	德国/PE	产品类别：	电子显微镜
型号：	STEBIC	最后更新：	2025-2-21
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销售商：北京裕隆时代科技有限公司

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产品介绍
公司简介

作为德国PE公司中国区域代理，裕隆时代向用户提供基于最新技术的扫描透射电子束感应电流分析系统STEBIC。

STEBIC拥有无与伦比的技术优势

相比普通EBIC

基于更先进的薄片技术，STEBIC拥有更高的空间分辨率
将STEM电镜和EBIC功能完美结合，为用户提供更广阔的的研究手段

相比电子全息成像系统

无需预先设置真空系统
无需图像重建系统
直接解读图像信息

相比样品电流放大器

更高的图像获取速度和更短的像素贮存时间（dwell time）
内置IV扫视用偏压电源
自动计算像素定量

有效提升定量测量功能

常规化电子束电流
直接进行样品间的对比
复合强度测量
离散强度测量

提升偏压功能

常规电镜操作条件下即可成像
确定薄片间电子关联
检查IV扫视下电子束对样品造成的损坏
在相关联的地方，进行电子束吸收电阻变化EBIRCh测量

STEBIC 厚度测量

Si的pn结，由FIB制样

重点观测

EBIC/EBAC的信号重叠
直接关联HAADF
离散强度测量

应用案例

SiGe纳米线

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北京裕隆时代科技有限公司

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售后服务

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专业勤奋的销售队伍，随时为您提供咨询服务。

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