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分光辐射照度测量系统
英文名称:总访问:669
国产/进口:进口半年访问:26
产地/品牌:日本/大塚产品类别:其他显微系统
型       号: 最后更新:2024-12-18
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销售商: 上海波铭科学仪器有限公司 查看该公司所有产品 >>
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  • 公司简介
该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

产品信息
特殊长度

该检测器
是一种高性能的分光光度计,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。

覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

带软件的样品照明电源,测量仪器批量控制
LIV测量,脉冲点测量,样品温控测量

设备校准的标准灯由我们自己的部门提供,并由 JCSS 校准公司注册。

 

评价项目

照度、辐照度

光谱数据(光谱辐照度)

其他测量项目
三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
u’v’相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显
色指数 Ra、R1 至 R15
峰值波长、半宽
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

设备构成
    单点型

1.jpg

半导体晶圆的面内分布测量

玻璃基板的面内分布测量

 

        多点型

2.jpg

实时测量

流向品质管理

真空室适用

 

        导线型

3.jpg

实时测量

宽度方向品质管理

测量案例

   超硬涂层的膜厚解析

4.jpg

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