原子力显微镜探针 扫描探针 标准硅探针

适合：AFM机台： 陶瓷、IC器件、半导体标准片、薄膜等形貌、粗糙度等的量测；

OMCL-AC160TS-R3可视化尖端的突出特征：

1)在你想看到的地方很容易进入：
可见的顶端位于悬臂的最末端。这使得你可以在样品上设定一个感兴趣点的尖端，特别是当你使用AFM和光学显微镜相结合的时候，比如生化催化剂。

2)高横向分辨率：
为了更精确地显示样品表面，需要更锐利的针尖。四面体形状是获得尖端的理想选择。实际上，即使采用铝反射涂层，可见尖端的曲率半径很小，平均小于10 nm。
OMCL-AC160TS-R3探针应用范围很广，但在晶体表面、薄膜、IC器件等方面有着突出的应用,探针的高分辨率能力的图像。

3)观察凹凸不平的样品：
针尖薄，尖端角35度。因此，这个技巧使您能够观察到样本的一个较窄的部分。
此外，可见的尖尖是一个倾斜的尖端，因此实质性的尖角下降更多，当它连接在你的原子力显微镜的芯片持有人以一定的倾斜角度(可能，5到20度)。这种针尖对观察粗糙的样品是有效的。