适用于车间的功能
多年来,X射线CT一直用于实验室中的样品内部检测,例如化石和人工制品等。最近,该技术在制造环境的质量控制应用中发挥着重要作用。
它能够无损检测零件和装配件内部的空隙、毛刺、裂纹和其他缺陷,包括额外制造的零件和装配件。它还可以作为一种计量工具,用以确保内部和外部尺寸符合高精度要求。
然而,制造商们已不满足于仅在制造过程中“精益求精”。他们在车间使用CT实时调整生产线,以防止零件超出公差范围。
XT H 225 ST 2x结合了我们的专业硬件和创新软件,因此具备各种应用中所需的高效性、可靠性和准确性。它支持用户新产品从研发到建立生产线、预试生产到批量生产的各个环节, 直至最终投入市场。
生产力
| 数据质量
| 精确度
检测效率加倍
我们将业界领先的功能集成到XT H 225 ST 2x微焦点X射线CT系统中, 可使数据采集速度提高一倍,从而提高检测效率。这一成果归功于高级探测器技术以及Half.Turn CT和Rotating.Target 2.0等新功能。
HALF.TURN CT,快速CT采集
样品检测时通常需要将样品旋转360度,而射向样品的X射线不是被吸收就是穿透,对此Nikon Metrology设计了一种方法,使样品只需旋转超过180度即可获得足够的数据。
我们的重构软件开发完全由公司自主控制,能够引入新的自动旋转中心计算,并优化重构算法,从而促进了半转的诞生。这些技术的共同作用消除了由样品旋转不足360度而产生的伪影。因此,只需一半传统CT所需数据即可自动生成同等质量和精度的图像
不使用Half.Turn CT 使用Half.Turn CT 传统360° CT
ROTATING.TARGET 2.0
Nikon Metrology工业CT系统优势还包括旋转靶技术,可显著提高扫描速度和信噪比。这是由于靶可以生成高功率X
射线,并同时保持微焦点。最新版本Rotating.Target 2.0的优化设计使正常运行时间延长了一倍。
以8000转/分的转速旋转钨靶,结合液体冷却,提高了入射电子束小光斑产生热量的散热效率。与仅依靠其材料特性(如导热系数)进行冷却的固定大功率靶相比,旋转靶具有显著的优势。它可以实现连续运行和连续扫描,无需冷却,最大功率450瓦,无需切换至其他靶。
行业领先的检测器技术
Nikon Metrology使用业界领先的平板探测器,可实现更小的像素和更快的曝光。然而,面板技术的先进功能只有与兼容的微焦点X射线源匹配时才能发挥作用。
XT H 225 ST 2x提供了这种兼容性,正因如此,Rotating.Target 2.0产生的高功率使探测器能够以更快的曝光时间工作,从而实 现超快的数据采集。高功率X射线的微焦点特性加上探测器的小像素和大面积优势,使得数据集具有高质量和高分辨率。
XT H 225 ST 2x探测器
传统200 µm像素探测器
大幅提高检测效率
据Nikon Metrology了解,实现高效检测需具备两个基本条件:第一,高速数据采集和重构;第二,X射线系统正常运行时间足够长。设备的正常运行率不仅与整体可靠性相关,同时也与维护保养作业(例如定期更换灯丝)的间隔时长和停机时间相关,前者越长越好,后者越短越好。
AUTO.FILAMENT CONTROL,延长灯丝寿命
高分辨率微焦点X射线始自一根必须定期更换的细灯丝发射电子。降低灯丝更换频率可以提高系统的正常运行率,因此十分有必要。可以使用长寿命灯丝,但这种灯丝更粗,因此会牺牲微焦点X射线的高分辨率特性。
使用XT H 225 ST 2x,高分辨率和长寿命灯丝不再是二选一,鱼和熊掌兼得。Auto.Filament Control智能控制X射线源以延长灯丝寿命并提高系统正常运行率。Nikon Metrology能够实施这些算法是因其来自自主设计和制造,具有控制X射线源以延长使用寿命的能力和专业知识。
QUICK.CHANGE,快速更换灯丝
当必须更换灯丝时,使用快速更换即插即用式灯丝杯可大大降低停机时间。该更换方法简单方便,重复性好,有效避免了人为失误。此外,Nikon Metrology的X射线工程师对灯丝本身进行了校准和调节,提供最佳性能。
批量
CT检测
Nikon Metrology的Inspect-X软件允许用户保存配置文件,以便日后调用。配置文件定义了所有采集和分析 参数,确保了整个CT过程的可重复性。
• 无需编程技能
• 简单的操作界面
• 无需手动选择参数
• 操作员可以自由执行其他任务
半自动
CT检测
唯一需要手动操作的环节是装入多零件样品架。零件识别、程序选择、数据采集、分析和报告完全自动化。
• 自动零件识别
• 与制造数据库集成
• 统计过程控制(SPC)
在线
CT检测
在线CT检测是对应完全自主生产环境中,需要检测具有复杂几何形状关键零件的解决方案。
• 与机器人和输送系统集成
• 快速检测和过程变化反馈
• 实时控制和优化生产
灵活满足不同需求
XT H 225 ST 2x可配置业界领先的平板探测器,最高可达2880 × 2880像素(150µm)。该系统具有切换X射线靶、马达移动FID 和选择测量模式的功能,是一种非常灵活的工具,可应对各种样品和检测挑战。
这意味着XT H 225 ST 2x不仅适用于快速连续检测,同样也适用于研发工作、预生产支持、质量控制和故障分析。
180kV透射靶
225 kV反射靶
225 kV旋转靶
多金属靶
一种射线源可配四种靶
一个225千伏微焦点源加上四个可选X射线靶头实现了其灵活性。所有靶均可由用户切换以优化系统性能,切换过程快速且毫不费力。因此避免了购买和维护第二源管和附件的额外成本。
反射靶是我们的标准配置,焦点尺寸低至3µm,可为各种应用提供合适的分辨率和功率。另一方面,旋转靶使用30W以上功率和同功率下三分之一小的焦点,可以在高功率下保持非常清晰的图像,并减少扫描物体所需的时间。透射靶可提供小于1μm的焦点,以获得更高的清晰度。
通常在材料分析中,使用低能量的X射线发射更有效,可以用多金属靶来实现。除了标准钨
(W)靶外,操作者还可以选择银(Ag)、钼
(Mo)和铜(Cu)。
先进控制软件
Inspect-X软件在X射线CT市场中极其优秀。它直观、易用, 简化了复杂样品的CT扫描过程,有利于准确检测。该软件由Nikon Metrology公司自主开发,旨在简化采集和重构CT数据的过程。
对于新手用户而言,最关键的是其智能化可以随时为他们提
供当前所需信息,因此简化了任务流程。高级用户可以利用对源和平板探测器的所有设置,以及采集技术和设置的熟练掌握,将系统自定义至最适合当前扫描样品的状态。
从而获得无与伦比的控制体验,并可按需自定义测量,例如延时CT或在生产线内完全集成检测系统。
马达移动
FID
由于X射线强度随着源和平板探测器之间距离的增加而降低, 为了补偿任何通量损失,用户通常必须增加X射线源功率,这会使焦点变大,或者延长探测器曝光时间,这会使扫描时间变长。
XT H 225 ST 2x具有马达移动FID(焦点到探测器距离)调整功能,因此用户无需增加X射线功率或延长探测器曝光时间。用户可以选择较短的FID,以便在使用低功率X射线时,为给定分辨率提供更快的扫描时间或更高的信噪比。
规格
并非所有规格都同时提供,请联系我们选择合适的配置以满足您的要求。
Nikon Metrology在全球安装了3000多套系统,30多年来一直在自主设计和制造X射线CT设备。我们致力于在未来继续服务于我们的客户,不断创新,为客户提供世界领先的检测和计量解决方案。
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