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硅球间隔物
英文名称:总访问:2439
国产/进口:国产半年访问:30
产地/品牌:苏州/纳微产品类别:层析填料
规       格:硅球间隔物 最后更新:2023-5-8
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销售商: 苏州纳微科技股份有限公司 查看该公司所有产品 >>
  • 产品介绍
  • 公司简介
     UniSil®硅球间隔物,具有非常窄的粒径分布,能够控制盒厚,不会对基板造成损坏,清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多,应用广泛。
产品特点
※ 微球粒径非常均一,变异系数CV小于2.5%
※ 微球单分散性好,无重叠或团聚
※ 微球纯度高,无污染
※ 微球机械强度高,K>4500
※ 微球具有较好的耐热性、耐寒性以及耐化学品性
UniSil®硅球间隔物的扫描电镜图
UniSil®硅球间隔物粒径非常均一
     UniSil®硅球的颗粒大小和分布是用公认的测试仪器(Beckman Coulter Counter Multisizer)和方法来确定的。为了确保结果的准确性,每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数,Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100, 控制在2.5% 以下。
    UniSil®硅球间隔物粒径分布图(微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试)
UniSil®硅球纯度高,无污染
    UniSil®硅球离子含量会直接影响到液晶的质量,因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水,产品定期抽样检查。
UniSil®硅球间隔物符合RoHS指令
    UniSil®硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素,不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属,纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。
UniSil®硅球间隔物产品目录
    纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品:Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 µm到25 µm, 3 µm到9 µm每隔0.1 µm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制,SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。
UniSil®硅球物理特性

客户可以根据需求选择合适的UniSil硅球产品。
纳微科技拥有先进的技术,完善的生产和检测仪器设备,可以严格控制产品的质量。

通用准则:

NM Si XXX;NM SiS XXX
NM - NanoMicro(纳微)缩写
Si - 二氧化硅微球中适用于边框的产品;SiS - 二氧化硅微球中适用于盒内的产品
XXX - 粒径标称 如:065 – 6.5 µm, 100 - 10.0 µm
备 注:

1. 粒径每间隔0.1 µm 为一个产品规格,也可以根据客户需求特殊定制;
2. 可根据客户需求提供小于1.5 µm及25.0 µm以上大小的特殊品种;
3. 测试方法: Beckman Coulter counter Multisizer 3;
4. 变异系数计算方法:变异系数 (C.V.)%=(标准偏差/平均粒径)×100%。

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