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扫描电镜,场发射电镜,透射电镜
英文名称:Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope,S-4700总访问:12563
国产/进口:进口半年访问:164
产地/品牌:日立,S-4160,S-3000N,S-2700,S-2400,TM-1000产品类别:电子显微镜
型       号:S-9300,S-9380,S-806C,H-7100,S-4200 最后更新:2025-2-22
货       号:
参考报价:400-889-3700,18930017069
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S-9300,S-9380,S-806C,H-7100,S-4700,S-4200,S-4160,S-3000N,S-2700,S-2400,TM-1000

Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

 

日立新型高分辨场发射扫描电镜
日立新推出的高分辨场发射扫描电镜,1kv的分辨率提升到1.3nm,并在探测器设计上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测;结合选配的STEM探测器,还可以实现明场像和暗场像的观测;此外在半导体应用中,还可以安装EBIC探测器,采集感生电流图像,极大丰富了信号的采集,对样品的信息的收集达到了新的高度。

技术特点:
1. 优秀的低加速电压成像能力,1kv分辨率可达1.3nm
2. 日立专利的ExB设计,不需喷镀,可以直接观测不导电样品
3. 配置Lower、Upper和Top三个Everhart-Thornley型探测器
4. Upper和Top探头均可选择接受二次电子像或背散射电子像
5. 可以根据样品类型和观测要求选择打开或关闭减速功能
6. 标配有冷指、电子枪内置加热器,物镜光阑具有自清洁功能
7. 仪器的烘烤维护及烘烤后的透镜机械对中均可由用户自行完成 


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