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| 销售商： 赛德威（香港）有限公司上海分公司 | 查看该公司所有产品 >> |
产品详细参数
- 名称：梅特勒 XP/XS超微量、微量天平与分析天平/电子天平
- 产品货号：R008620009
- 规格：UMX/MX/XP/XS
- 产地：瑞士
- 品牌商标：梅特勒
- 供应商：Sidvance
- 数量：大量
详细信息
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技术参数
型号 / 最大称量值 / 可读性
XP2U(新品)/2.1 g/0.1 µg XP26 / 22 g / 0.001 mg XP56 / 52 g / 0.001 mg XP2U超微量天平 最大称量值 2.1 g 可读性 0.1 µg 主要特点
1.SmartSens红外感应系统可自动开关防风门、去皮与打印 2.背光触摸显示屏与8种个人操作设定使操作更加简捷与个性化 3.e-Loader软件使天平可连接互联网下载升级应用软件，令它永远处于新技术最前沿 4.五千万分之一分辨率与ProFACT全自动校准并对结果线性化功能塑造卓越称量精确性 5.MinWeigh最小称量值带来全新称量理念 仪器介绍
梅特勒-托利多创新的微量和超微量天平MX/XP/UMX设立了高效称量、用户友好的操作界面和高质量的新标准。这些微量天平可以提供现有分析天平具有的最高分辨率：高达无可匹敌的52,000,000位。明亮的触摸显示屏、智能化用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 |
手机版：梅特勒微量天平与分析天平
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