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销售商: 泽泉国际集团上海泽权仪器设备有限公司 | 查看该公司所有产品 >> |
一、 主要特点
(1)、可对C(6)-Fm(100) (次ppm—100%)进行无损分析;
(2)、高达400W的X-射线管,采用专利WAG(广角结构)技术设计,最大限度地满足实验室各类需求;
(3)、配备8个可定制滤波器和8个二次靶,可快速、准确地对微量及痕量元素进行检测分析;
(4)、标准配置硅漂移探测器(SDD),高计数率、高分辨率,适于高和低原子序数元素分析;
(5)、针对轻元素分析检测,可选配薄聚合物视窗的SDD LE探测器;
(6)、集成电脑,专业的nEXt™软件包,易于操作。
二、二次靶激发技术介绍
二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。如图,样品为含少量Cr,Mn,Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿),杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没;相反,使用Ni二次靶激发时,杂质元素的吸收信号被大大加强。
三、主要技术参数
系统规格 |
EX-6600 |
X-7600 |
测量范围 |
C(6)- Fm(100) |
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测量浓度 |
次 ppm —100% |
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X-射线管靶材 |
Rh靶 |
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X-光管电压/功率 |
60kV, 300W |
60kV, 400W |
激发类型 |
直接激发和二次靶激发 |
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探测器 |
硅漂移探测器(SDD),无需液氮 |
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分辨率(FWHM) |
在5.9 keV时,129 eV ± 5eV |
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视窗 |
铍窗 |
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自动进样器 |
10位 |
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工作环境 |
空气/真空/氦气 |
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管滤光片 |
8款软件可选 |
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二次靶 |
8款 |
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样品室尺寸 |
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主机尺寸(cm) |
85(L)*85(W)*105(H) |
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主机重量 |
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操作软件 |
nEXt™分析包(包含基础基本参数法) |
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报告 |
用户自定义数据打印输出 |
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选配件 |
20位自动进样器、样品旋转器、专业基本参数法、真空泵、氦气净化器、超级SDD (分辨率123eV ± 5eV) |
四、代表性用户
印度原子能研究中心---环境监测与评估部门
印度艺术学院---物理系