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销售商: 北京泰坤工业设备有限公司 | 查看该公司所有产品 >> |
1、产品特点:
PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。
与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子计数,这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
实验室中的X射线源,尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多,因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号,由于没有暗电流和读出噪音,PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性,例如复位噪声和非线性电荷响应。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的最快计数电子设备?结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围,完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。
具有挑战性的实验室应用(如电荷密度研究和配对分布函数分析)依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据,PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合,并且是实验室中这些要求的最佳匹配。
2、核心优势
- Mo,Ag和In量子效率> 90%
- 直接检测最清晰的空间分辨率
- 没有读出噪音,也没有黑暗信号达到最高精度
- 高动态范围
- 荧光背景抑制
- 最高的计数率
- 同步辐射证明的辐射硬度
- 免维护运行
- 高可靠性:没有容易发生故障的密封或复杂,冷却至室温以下
3、应用领域
- 电荷密度分析
- 配对功能(PDF)分析
- 高分辨率化学结晶学
- 高压/高温XRD
- 关键尺寸SAXS
- 计算机断层扫描(CT)
- 无损检测(NDT)
4、技术参数:
PILATUS3 R CdTe |
300K |
300K-W |
探测器模块数量 |
1 × 3 |
3 x 1 |
有效面积:宽×高 [mm²] |
83.8 × 106.5 |
253.7 x 33.5 |
像素大小 [μm²] |
172 x 172 |
|
总像素数量 |
487 × 619 |
1475 × 195 |
间隙宽度, 水平/垂直(像素) *每个模块之间水平间隙增加1个像素 |
- */ 17 |
7* / - |
非灵敏区 [ % ] |
5.7 |
1.1 |
缺陷像素 |
< 0.1% |
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最大帧频 [Hz] |
20 |
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读出时间 [ms] |
7 |
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点扩散函数 |
1 pixel(FWHM) |
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计数器深度 |
20 bits(1,048,576 counts) |
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功耗 [W] |
30 |
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尺寸(WHD)[mm³] |
158 x 193 x 262 |
280 x 62 x 296 |
重量 [kg] |
7.5 |
7.0 |
模块冷却 |
水冷 |
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外接触发电压 |
5V TTL |