反射谱成像技术

产地/品牌：SEMLAB

型      号：

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最后更新：2024-12-18

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上海波铭科学仪器有限公司

光谱型椭偏仪

产地/品牌：SEMLAB

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上海波铭科学仪器有限公司

少子寿命/ μ LBIC变温测试系统

产地/品牌：SEMLAB

型      号： WT-2000MCT/μ LBIC

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上海波铭科学仪器有限公司

WT-2000半导体多功能测试

产地/品牌：SEMLAB

型      号： WT-2000

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上海波铭科学仪器有限公司

WT-1200A 单点式少子寿命测试系统

产地/品牌：SEMLAB

型      号： WT-1200A

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上海波铭科学仪器有限公司

高速相位差测量装置 RE-200

产地/品牌：日本/大塚

型      号： RE-200

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上海波铭科学仪器有限公司

高灵敏度近红外量子效率测量系统

产地/品牌：日本/大塚

型      号： QE-5000 New

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上海波铭科学仪器有限公司

高感度分光辐射亮度计 HS-1000

产地/品牌：日本/大塚

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上海波铭科学仪器有限公司

量子效率测量系统 QE-2100

产地/品牌：日本/大塚

型      号：

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线扫描膜厚仪【离线型】

产地/品牌：日本/大塚

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紫外分光配光测量系统

产地/品牌：日本/大塚

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紫外分光辐射照度测量系统 New

产地/品牌：日本/大塚

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紫外分光全光谱光通量测量系统

产地/品牌：日本/大塚

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上海波铭科学仪器有限公司

液晶层间隙量测设备 RETS series

产地/品牌：日本/大塚

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椭偏仪 FE-5000/5000S

产地/品牌：日本/大塚

型      号： FE-5000/5000S

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上海波铭科学仪器有限公司

总光谱光通量测量系统 HM/FM series

产地/品牌：日本/大塚

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ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE

产地/品牌：日本/大塚

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Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

产地/品牌：日本/大塚

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高速LED光学特性仪 LE series

产地/品牌：日本/大塚

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膜厚量测仪 FE-300

产地/品牌：日本/大塚

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