高感度分光辐射亮度计 HS-1000

产地/品牌：日本/大塚

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量子效率测量系统 QE-2100

产地/品牌：日本/大塚

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线扫描膜厚仪【离线型】

产地/品牌：日本/大塚

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紫外分光配光测量系统

产地/品牌：日本/大塚

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紫外分光辐射照度测量系统 New

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紫外分光全光谱光通量测量系统

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液晶层间隙量测设备 RETS series

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椭偏仪 FE-5000/5000S

产地/品牌：日本/大塚

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总光谱光通量测量系统 HM/FM series

产地/品牌：日本/大塚

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ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE

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Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

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高速LED光学特性仪 LE series

产地/品牌：日本/大塚

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膜厚量测仪 FE-300

产地/品牌：日本/大塚

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线扫描膜厚仪【在线型】

产地/品牌：日本/大塚

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嵌入式膜厚检测仪

产地/品牌：日本/大塚

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多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA

产地/品牌：上海

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多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA

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光波场三维显微镜 MINUK

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ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSEneoSE

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ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo

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