中国农大“植物表型组学和表型技术”论坛通知

过去20年来，随着技术的发展，大量的植物全基因组测序已经完成，但对这些基因组进行解析的难度要远远大于测序的难度，多数基因的功能暂时还不清楚。在农业育种上所关心的核心问题——性状（Trait）也就是表型（Phenotype）——由于受到基因和环境的双重影响，更是难以进行可重复的精确测量。这使得植物表型研究被公认为制约植物功能基因组学和分子育种发展的瓶颈。

随着高通量植物表型测量技术的快速发展，越来越多的研究人员和育种家开始采用这一新兴的技术进行研究，越来越多的研究员人员相信，植物表型组学的时代已经来临。植物表型组学是一个跨学科的研究领域，它必须和基因组学、生物信息学、大数据计算结合起来，才能更好的为育种服务。

由国际植物表型协会（IPPN）、欧盟植物表型协会（EPPN）和德国植物表型协会（DPPN）联合进行的一项最新调查表明，田间表型、非生物胁迫、数据管理、根系表型、费用等是制约植物表型组学发展的主要问题。

2016年10月第一届亚太植物表型国际会议在国内召开，吸引到了来自13个国家的200多位专家学者参加，对我国植物表型领域的发展起到了极大的推动作用，同时与会人员也提出了希望有更多的学术交流。

为了促进广大科研工作者和育种家进一步加深对植物表型组学和表型技术的深入了解，中国农业大学农学院和慧诺瑞德（北京）科技有限公司将于2016年12月22日（周四）上午举办“植物表型组学和表型技术”论坛，诚邀相关专家和技术人员共同对感兴趣的问题展开研讨。

论坛日程

08:30-09:00
签到

09:00-09:05  
开幕式
辛明明 副教授，中国农业大学

09:05-09:45  
植物表型组学技术进展和表型平台的构建
韩志国 博士，慧诺瑞德（北京）科技有限公司

09:45-10:25  
利用作物冠层光合表型指导作物育种
宋青峰 博士，中国科学院上海生命科学研究院计算生物学研究所

10:25-10:40  
休息和讨论

10:40-11:20  
基于激光雷达技术的作物高通量三维表型测量平台
庞树鑫 博士，中国科学院植物研究所

11:20-12:00  
水稻表型组进展和挑战
杨万能 副教授，华中农业大学

论坛时间  2016年12月22日 09:00-12:00

论坛地址  北京市海淀区圆明园西路2号,中国农业大学（西校区）农学楼110会议室

报名方式

1. 微信报名：扫描下面二维码关注微信公众号，点击公众号左下角“活动报名”栏目报名
2. 电话报名：010-5109 5381,5109 5382
3. email报名：发送您的“姓名+email+电话+单位+参会人数”到marketing@phenotrait.com

本论坛免费，报名即可参加。我们诚挚的邀请相关科研人员共同参与本次论坛。

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